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荧光硫测定仪的技术原理

更新时间:2019-09-20  |  点击率:2057
荧光硫测定仪的技术原理
荧光硫测定仪采用“紫外荧光法”测定原理。当样品被引入高温裂解炉后,经氧化裂解,其中的硫定量地转化为二氧化硫,反应气经干燥脱水后进入荧光室。在荧光室中,部分二氧化硫受紫外光照后转化为激发态的二氧化硫(SO2*),当SO2*跃迁到基态时发射出光子,光电子信号由光电倍增管接收放大。再经放大器放大,计算机数据处理,即可以转换为光强度成正比的电信号。在一定条件下反应中产生的荧光强度SO2*与二氧化硫的生成量成正比,二氧化硫的量又与样品中的总硫含量成正比,故可以通过测定荧光强度来测定样品中的总硫含量。分析样品前,需要先用标样校正曲线,在相同条件下再分析样品,程序自动依据标样校正曲线计算出样品的硫含量。
1、线性范围宽、灵敏度高、抗干扰能力强、自动化程度高、分析结果。
2、采用流行电路和进口器件,目前紫外光源和微电流放大电路,整机性能优于同类产品。
3、Windows操作平台,使操作更为方便、快捷。通过鼠标就可完成所有的参数设置和条件选择,由计算机控制数据的采集、处理、贮存及打印。
4、高压任意调节,标样校正可采用单点或多点校正,操作简便、快捷。
5、裂解炉温控和风扇及光源均由计算机自动控制开关。
6、温度控制器使用风冷电路, 风扇由仪器内部温度自动控制。
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